合金分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于識別物質(zhì)中的特定元素并同時對其進(jìn)行量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長（λ）和能量（E）來確定特定元素，通過測量相應(yīng)射線的密度來確定該元素的含量。這樣，XRF光譜法就可以確定物質(zhì)的元素組成。
　　每個原子都有自己固定數(shù)量的電子（電負(fù)性粒子）圍繞原子核運(yùn)行。并且電子的數(shù)量等于原子核中質(zhì)子（帶正電的粒子）的數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)，我們可以知道質(zhì)子數(shù)。每個原子序數(shù)對應(yīng)一個固定的元素名稱，如鐵，元素名稱為Fe，原子序數(shù)為26。能量色散X射線熒光和波長色散X射線熒光光譜分析技術(shù)專門研究應(yīng)用于最內(nèi)層三個電子軌道的活動，即K、L、M。其中K軌道離原子核最近，每個電子軌道對應(yīng)一個元素的特定能級。
　　在XRF分析中，從X射線管發(fā)射的高能初級射線光子撞擊樣品元素。這些初級光子包含足夠的能量來撞擊最內(nèi)層殼層（K層或L層層）中的電子并使其脫軌。此時，原子變成不穩(wěn)定的離子。由于電子本能地尋求穩(wěn)定，L或M外殼中的電子將進(jìn)入構(gòu)成內(nèi)殼的空間。當(dāng)這些電子從外殼移動到內(nèi)殼時，它們會釋放能量，我們稱之為二次X射線光子。整個過程稱為熒光輻射。每種元素的二次射線都有自己的特點(diǎn)。X射線光子熒光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換時內(nèi)外層的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量約為6.4 keV。特定元素在一定時間內(nèi)發(fā)射的X射線的數(shù)量或密度可以用來衡量這種元素的含量。典型的XRF能量分布譜圖顯示了不同能量下的光子密度分布。
　　合金分析儀檢測范圍：鈦、釩、鉻、錳、鐵,Co,Ni,Cu,Zn,Se,Nb,Zr,Mo,Pd,Ag,Sn,Sb,Ta,Hf,Re,W,Pb,Bi。