鍍層測(cè)厚儀一般采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層厚度。工作狀態(tài)下的測(cè)量探頭放置在被測(cè)零件表面，從而產(chǎn)生閉合磁路。隨著移動(dòng)探頭與鐵磁材料之間距離的變化，磁路會(huì)發(fā)生不同程度的變化，從而導(dǎo)致磁阻和探頭線圈電感的變化。利用這一原理，可以精確地測(cè)量探頭和鐵磁材料之間的距離，即被測(cè)涂層的厚度。
　　鍍層測(cè)厚儀的常見故障如下：
　　1、顯示值不穩(wěn)定
　　鍍層測(cè)厚儀顯示值不穩(wěn)定主要是工件本身材料和結(jié)構(gòu)的特殊性造成的，比如工件本身是否是磁性材料如果是磁性材料，我們就得選擇磁性鍍層測(cè)厚儀如果工件是導(dǎo)體，我們必須選擇渦流鍍層測(cè)厚儀工件的表面粗糙度和附著物也是儀器顯示溫度的原因工件表面粗糙度過大，表面附著物過多。故障排除的重點(diǎn)是對(duì)粗糙度較大的工件進(jìn)行拋光，去除附著物，然后選擇合適的鍍層測(cè)厚儀。
　　2、測(cè)量結(jié)果誤差太大
　　鍍層測(cè)厚儀測(cè)量誤差大的主要原因如下：母材磁化、母材厚度太小、邊緣效應(yīng)、工件曲率太小、表面粗糙度過大、磁干擾探頭放置方法等。
　　3.沒有數(shù)字
　　電鍍測(cè)厚儀不顯示數(shù)字的最簡(jiǎn)單原因是檢查電池是否充滿電。
　　鍍層測(cè)厚儀，一機(jī)多能，細(xì)檢細(xì)測(cè)，高度集成器件，能充分考慮RoHS、全元素分析、快速準(zhǔn)確地檢測(cè)各種尺寸的不規(guī)則涂層樣品。鍍層測(cè)厚儀的應(yīng)用領(lǐng)域：廣泛用于電路板、引線框架和電子元件連接器的檢測(cè)、鍍純金、K金、鉑、銀及其他飾品的薄膜成分和厚度分析、手表、精密儀器制造業(yè)。