掃描電子顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡，可以用來(lái)觀察材料的表面形貌、結(jié)構(gòu)和成分等。以下是掃描電鏡對(duì)樣品的要求：
　　干燥樣品：樣品要保持干燥，因?yàn)镾EM需要在真空環(huán)境下工作，任何水分都會(huì)蒸發(fā)，破壞樣品。因此，在觀察前，應(yīng)將樣品干燥或固定在真空環(huán)境中。
　　可導(dǎo)電性：掃描電子顯微鏡SEM需要電子束在樣品表面掃描生成圖像，所以樣品要有良好的導(dǎo)電性，否則電子束會(huì)被樣品表面反射，無(wú)法進(jìn)入樣品。對(duì)于非導(dǎo)電材料，可以使用金屬化、碳噴鍍、金屬蒸發(fā)和其他提高電導(dǎo)率的方法。
　　尺寸適當(dāng)：掃描電鏡的分辨率很高，可以觀察到非常小的樣品結(jié)構(gòu)，但樣品大小也需要適中。樣品的尺寸不能太大，否則電子束不能完全覆蓋樣品表面。同時(shí)，樣品的尺寸也不能太小，否則可能會(huì)在SEM中丟失。
　　光滑表面：掃描電鏡需要掃描樣品表面才能獲得圖像，所以樣品表面要光滑，否則圖像可能會(huì)變得模糊或不清晰。對(duì)于粗糙的表面，可以使用金屬蒸發(fā)和其他方法鍍上金屬膜，以獲得更好的圖像。
　　無(wú)毒性：掃描電鏡需要在真空環(huán)境下工作，樣品要無(wú)毒，否則可能對(duì)SEM設(shè)備和操作人員造成傷害。
　　掃描電子顯微鏡SEM具有很高的分辨率和放大倍數(shù)，可以提供非常詳細(xì)的表面形貌信息，在材料科學(xué)中得到了廣泛的應(yīng)用、生物醫(yī)學(xué)、納米技術(shù)等諸多領(lǐng)域。
　　掃描電鏡的測(cè)量結(jié)果可能會(huì)受到掃描電鏡本身分辨率和測(cè)量設(shè)備誤差的影響、樣品制備和處理的影響、表面電荷和樣品形貌的影響。此外，掃描電鏡測(cè)量需要對(duì)樣品進(jìn)行處理和制備，這可能導(dǎo)致樣品的結(jié)構(gòu)和形貌發(fā)生變化，從而影響測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
　　因此，在使用SEM進(jìn)行測(cè)量時(shí)，要注意樣品制備和處理的質(zhì)量，選擇合適的SEM參數(shù)，進(jìn)行多次測(cè)量并比較結(jié)果，以提高測(cè)量的準(zhǔn)確性和可靠性。