測試鍍層厚度有專門的檢測儀，電鍍鍍層檢測儀。可能大家對鍍層測厚儀不是很了解，這是檢測分析金屬鍍層厚度的儀器設(shè)備。目前在市場上，使用比較多的是X射線(XRF)熒光鍍層測厚儀，在使用中有喝多優(yōu)點，不論是測試對象還是測試方法，相對其他類型測厚儀都有優(yōu)勢。

iEDX-150WT鍍層測厚儀

　　一、鍍層測厚儀的特性：

　　若產(chǎn)生X-射線熒光是由于轉(zhuǎn)移一個電子進入K軌道，一個K軌道上的電子已事先被游離，另一個電子即代替他的地位，此稱之為K輻射。不同的能階轉(zhuǎn)換出不同的能量，如Kα輻射是電子由L軌道跳至K軌道的一種輻射，而Kβ輻射是電子從M軌道跳至K軌道的一種輻射，其間是有區(qū)別的。若X-射線熒光是一個電子跳入L的空軌域，此種輻射稱為L輻射。同樣的L輻射可劃分為Lα輻射，此是由M軌道之電子跳入L軌道及Lβ輻射，此是由N軌道之電子跳入L軌道中。由于Kβ輻射能量約為Kα的11%，而Lβ輻射能量較Lα大約20%，所以以能量的觀點Lα及Lβ是很容易區(qū)分的。

　　鍍層測厚儀在開始測試時候最好進行幾次簡單的測試工作，不僅是確保設(shè)備的可用性(正常性)，同時也檢驗鍍層測厚儀各個接口是否符合標準;

　　二、鍍層測厚儀的原理 

        1、首先對我們要了解XRF如何測量元素成分含量的： 

         一個元素的成分計算公式可以簡單用下面的公式表示：F?I=C,(這里C是樣品含量，F(xiàn)是光譜中此元素比例系數(shù)，I是此元素在光譜中的激發(fā)強度)，首先標樣中已知C(此處用百分比表示)，將此標樣放入光譜，按著測試條件開X射線激發(fā)標樣，此時得到一個I的值，C/I=F(這樣就能計算出此元素的含量輕度比列系數(shù))。 

        之后，待測樣品放入光譜，同樣條件用X射線激發(fā)樣品，獲得待測樣品的I值，用這個I值乘以之前得到的F值，F(xiàn)?I=C 就能計算出此樣品的含量C的值，這就是XRF測量元素含量的基本原理。 

        2、鍍層測厚儀膜厚原理： 

        同理,Th=F?I （這里Th是厚度，單位微米或其他長度單位） 

        首先也是用標樣來標定，求出此樣品的某元素鍍層厚度強度比F。 

        測試待測樣品時，用待測樣品的鍍層元素激發(fā)的I值乘以之前得到的F值，F(xiàn)?I=Th這樣就能計算出待測樣品的此元素鍍層厚度值。 

　　以上內(nèi)容是對鍍層測厚儀技術(shù)特征上面的講解，最后要提醒大家的是所得數(shù)據(jù)，不能只單看一面，要綜合多方面的測試結(jié)果，從而合理判斷，其中涉及到數(shù)據(jù)有MAX值、MIN值、誤差值以及平均值等等。